Прибор определения числа падения Falling Number 7100 предназначен для экспресс расчета степени проросшести зерна. После несложных ручных манипуляций по подготовке смеси из размолотого зерна и дистиллированной воды, всего лишь за 5-7 минут вы получаете готовый результат, позволяющий отнести пшеницу, рожь к тому или иному классу.

Отличия и плюсы прибора для определения числа падения Falling Number 7100

1. Корпус выполнен из нержавеющей стали
2. Соответствует общепринятым мировым стандартам (ICC No:107/1,AACC No:56-81 B)
3. Имеет сертификат CE
4. Автоматическая система для проведения одиночного анализа
5. Измерение активности альфа-амилазы в муке и шроте пшеницы, ржи, ячменя и других культурах
6. Встроенный принтер

Отделяйте поврежденное и проросшее зерно, чтобы сэкономить деньги и поддерживать качество. Возможность выбрать тест нажатием одной кнопки. Автоматический перерасчет результатов с учетом высоты над уровнем моря. Коррекция результатов в соответствии с содержанием влажности (MOISTURE FN) и весом образца (MOISTURE GR). Подсчет и печать среднего значения двойного измерения. Подсчет числа разжижения и смеси. Возможность дать название каждому анализируемому образцу. Встроенный принтер, можно настроить параметры печати. Дата, время, температура в бане, пробирок, результаты теста, информация о компании, информационные сообщения - все это отображается на одном экране. Возможность выполнить:

• Классический тест на число падения для пшеничной муки
• Тест на число падения в пшеничной муке с функцией коррекции высоты над уровнем моря
• Тест на число падения в муке пшеницы, ржи и ячменя с функцией коррекции высоты над уровнем моря
• Тест FFN для измерения активности Альфа-амилазы в муке. Эта информация может быть использована для расчета и оптимизации различных добавок

Это единственный в мире прибор ПЧП Falling Number 7100 с сенсорным экраном размером 140*180 мм. Это позволяет легко и быстро получить доступ ко всем функциям.
Компоненты водяной бани и электроника разделены. Это помогает избежать неполадок и ошибочных измерений в следствии перегрева электрических компонентов.